掌握ECC/壞區塊管理眉角 NAND Flash嵌入式應用效能增

作者: 蒙敏雄 / 陳文榮
2015 年 12 月 10 日
NAND Flash記憶體在出廠時是允許部分晶片含有壞區塊,或者好的區塊中含有一些錯誤位元,因此在實際應用時,須搭配使用控制器,透過硬體與軟體進行壞區塊管理,以及利用錯誤更正編碼(ECC)演算法修正錯誤位元,方能提升嵌入式系統儲存效能。
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